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高低温试验箱
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升温速率 1.0～3.0℃/min
冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。
用于测试和确定电子电工、材料及其他产品在进行高温、低温或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
本系列试验设备是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备，用于测试和确定电子电工、材料及其他产品在进行高温、低温或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
波动/均匀度 ±0.5℃/±2℃ 升温速率 1.0～3.0℃/min 降温速率 0.7～1.0℃/min
型号(cm) LP/GDW-500 工作室尺寸 70*80*90 外形尺寸 145*140*210
邮箱：linpin@linpin.com
地址：上海市奉贤区展工路888号
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